攻克高共模電壓
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產品名稱: 攻克高共模電壓
產品型號:
產品展商: 德計應用方案
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簡單介紹
浮動差分測量（例如，高邊 Vgs）非常困難或難以實現(xiàn)，因為頻率高（快速開、關）以及示波器探頭在高帶寬下的共模抑制不夠而導致共模電壓高（例如 Vds）。 共模抑制差導致測量受到共模錯誤而非實際差分信號的控制
攻克高共模電壓
的詳細介紹
浮動差分測量（例如，高邊 Vgs）非常困難或難以實現(xiàn)，因為頻率高（快速開、關）以及示波器探頭在高帶寬下的共模抑制不夠而導致共模電壓高（例如 Vds）。 共模抑制差導致測量受到共模錯誤而非實際差分信號的控制。
泰克提供隔離探頭 (ISOVu) 的唯壹解決方案不削弱滿足 GaN 和 SiC 設備的工作要求的頻率，供您準確進行差分測量。 這樣，您可以準確計算并證明導通損耗、停滯時間損耗和開關損耗。 此外，如果您沒有使用集成門電路驅動器，通過進行浮動差分測量的功能，您可以準確測量和控制開、關設備時的停止時間。 您現(xiàn)在也可以避免過度估計在硬開時產生的瞬態(tài)電壓 (dv/dt) 和電流導致的功率轉換器的高頻輻射。
